MOS管在承受過大電流時(shí),由于電流過載,導(dǎo)致芯片內(nèi)部的溫度急劇升高,使得芯片內(nèi)部的結(jié)構(gòu)和聯(lián)系因熱應(yīng)力而出現(xiàn)微小的損壞,這些微小的損壞會使得MOS管的電壓突然反轉(zhuǎn),出現(xiàn)尖峰電壓。
另外,在MOS管關(guān)斷時(shí),由于管子內(nèi)部的電荷和電感的存在,電流并不會立即停止流動,而是會產(chǎn)生過渡過程,這個(gè)過渡過程就是電流快速變化,從而導(dǎo)致尖峰電壓的問題。
尖峰電壓一般會對MOS管產(chǎn)生較大的沖擊,對于一些靈敏的電子元件會產(chǎn)生瞬間的損壞,因此,在使用MOS管的過程中,需要注意控制電壓和電流,以避免MOS管因?yàn)殡娏鬟^載而導(dǎo)致尖峰電壓的問題。同時(shí)也要注意在設(shè)計(jì)電路時(shí),為MOS管添加合適的保護(hù)電路,以減小尖峰電壓對電路的損害。