芯片的速度等級決定于芯片內(nèi)部的門延時和線延時，這兩個因素又決定于晶體管的長度L和容值C，這兩個數(shù)值的差異最終決定于芯片的生產(chǎn)工藝。怎樣的工藝導致了這一差異，我還沒找到答案。

2. 在芯片生產(chǎn)過程中，有一個階段叫做speed binning。就是采用一定的方法、按照一組標準對生產(chǎn)出來的芯片進行篩選和分類，進而劃分不同的速度等級。“測試和封裝”應該就包含這一過程。

3. 速度等級的標定不僅僅取決于芯片本身的品質(zhì)，還與芯片的市場定位有很大關(guān)系，返修概率和成本也是因素之一。

4. 芯片的等級可以在測試后加以具體調(diào)整和改善，在存儲器芯片的生產(chǎn)中這一技術(shù)應用很廣泛。

5. 芯片生產(chǎn)的過程是充滿各種變數(shù)的，生產(chǎn)過程可以得到控制，但是控制不可能精確到一個分子、一個原子，產(chǎn)品質(zhì)量只能是一個統(tǒng)計目標。同一個wafer上的芯片會有差異，即使是同一芯片的不同部分也是有差異的。速度等級是一個統(tǒng)計數(shù)字，反映了一批芯片的某些共同特性，不代表個別芯片的質(zhì)量。而且由于某些芯片的測試是抽樣進行的，也不排除個別芯片的個別性能會低于標定的速度等級。不過，據(jù)說FPGA的測試是極嚴格的，很可能我們拿到手的芯片個個都經(jīng)過了詳盡的測試。這也是FPGA芯片價格高于普通芯片的原因。

6. 同一等級的芯片中的絕大多數(shù)，其性能應該高于該速度等級的劃分標準。這也是為什么在FPGA設(shè)計中，有少許時序分析違規(guī)的設(shè)計下載到芯片中仍然能夠正常運行的原因（時序分析采用的模型參數(shù)是芯片的統(tǒng)計參數(shù)，是最保守也是最安全的）。不過，由于同一等級的芯片仍然存在性能差異，存在時序違規(guī)但是單次測試成功的FPGA設(shè)計不能確保在量產(chǎn)時不在個別芯片上出現(xiàn)問題（出了問題就要返修或現(xiàn)場調(diào)查，成本一下子就上去了）。所以，還是要把時序收斂了才能放心量產(chǎn)，這就是工程標準對產(chǎn)品質(zhì)量的保證。

7. 概率和統(tǒng)計學源于工程實踐，對工程實踐又起到了巨大的指導作用。工程實踐中的標準都是前人經(jīng)驗教訓的積累，是人類社會的寶貴精神財富。

8. 現(xiàn)實世界是模擬的，不是數(shù)字的。在考察現(xiàn)實問題時，我們這些數(shù)字工程師和軟件工程師應該拋棄“一是一、〇是〇”的觀念，用連續(xù)的眼光看待這個連續(xù)變化的真實世界。

9. 芯片生產(chǎn)過程中的不確定性導致了芯片的性能差異，這一差異影響了芯片的價格，價格和性能的折中又影響了我們這些FPGA設(shè)計工程師在器件選型、設(shè)計方法上的決策，我們生產(chǎn)的產(chǎn)品的性價比決定了產(chǎn)品的銷售，產(chǎn)品的銷量又決定了芯片的采購量，采購量又影響了芯片的采購價格...。原子、分子級別上的差異，就這樣一級一級地傳遞和放大。